電子組件振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)法    一、電子組件振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)法適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測(cè)定電子組件（以下簡(jiǎn)稱組件）于運(yùn)輸或使用中承受振動(dòng)之耐久性能之試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。 注：試驗(yàn)方法Ⅰ適用于測(cè)定對(duì)一般振動(dòng)之耐久性，試驗(yàn)方法Ⅱ適用于測(cè)定共振點(diǎn)及試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點(diǎn)之偏距，試驗(yàn)方法Ⅲ適用于測(cè)定在共振點(diǎn)之耐久性。   二、電子組件振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)法裝置：振動(dòng)裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗(yàn)且符合下列條件。 （1）振動(dòng)波形及失真率：施加于供試品之振動(dòng)波形為正弦波，供試品安裝位置之振動(dòng)加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。 （2）振動(dòng)振幅：規(guī)定振動(dòng)方向之振幅容許差，須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。 （3）與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng)：于供試品安裝位置，與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng)，不論任何方向，其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。 （4）振動(dòng)頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時(shí)應(yīng)為±2%。 （5）掃描（1）方法：原則是為對(duì)數(shù)掃描，但平均掃描亦可。                    注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規(guī)定振動(dòng)頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。   三、電子組件振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)法準(zhǔn)備 3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法，直接或使用夾具堅(jiān)固地安裝于振動(dòng)臺(tái)上。使用夾具時(shí)，須能施加振動(dòng)于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向，且夾具應(yīng)具足夠機(jī)械強(qiáng)度，安裝后亦不得松動(dòng)或發(fā)生共振，組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。                   （1） 固定組件本體（有導(dǎo)線之組件，亦同時(shí)固定導(dǎo)線）。                   （2） 僅固定導(dǎo)線。   四、電子組件振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)法試驗(yàn) 4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時(shí)，依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。 4．2 初期測(cè)定：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行，檢查外觀。 4．3 試驗(yàn)方法：依下列各項(xiàng)施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場(chǎng)影響時(shí)，于組件中應(yīng)規(guī)定其較大允許值。         4．3．1 試驗(yàn)方法種類：試驗(yàn)方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗(yàn)）、Ⅱ（共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn)）及Ⅲ（共振點(diǎn)耐久試驗(yàn)） （1）試驗(yàn)方法Ⅰ（掃描耐久試驗(yàn)）：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定，照下表施行（參照?qǐng)D）。 振動(dòng)原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗(yàn)時(shí)間各方向均相同，合計(jì)6小時(shí)。                                                                                                   表        振動(dòng)種類 試驗(yàn)條件 種類A 種類B 種類C 振動(dòng)頻率范圍 10～55Hz 100～500Hz 10～2000Hz 全振幅或加速度 1．5mm 1．5mm或98m/s2（10G）中較小者 1．5mm或196m/s2（20G）中較小者 掃描之比例 10-55-10Hz 約1分鐘 10-500-10Hz約15分鐘 10-2000-10Hz約20分鐘 掃描方法 對(duì)數(shù)掃描或平均掃描 試驗(yàn)時(shí)間 6小時(shí)